NANO SISTEMAS
Ofrecemos varias soluciones para para procesamiento de obleas y nanolitografía de impresión óptica, incluyendo alineadores de máscara, estaciones de puntas comprobadores paramétricos de características eléctricas.
Nuestra amplia experiencia les permite proporcionar soluciones automáticas e integradas a medida para inspección en nanofabricación y sistemas integrados de alineamiento, conexión y medida.
Instrumentos para nanofabricación, nanotecnología, nanomateriales.
Sistema de posicionamiento y alineación para nano-impresión.
| Estaciones de alineamiento de máscara | |
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Las estaciones de Alineamiento de Máscara de Precisión están equipadas con herramientas especiales para transferir patrones microscópicos a los substratos. Usados para aplicaciones Micro-contact, nanolitografía-UV de impresión con tamaños de substrato de 150 mm. Este grupo comprende alineadores para aplicaciones de interconexión 3D, semiconductores y dispositivos de Si, y para producción de MEMS que requiere alineadores precisos y dispositivos para Nanotecnología. |
| Estaciones de puntas | |
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Mesas de
puntas para evaluación de las características de circuitos integrados.
Sistemas de pruebas y caracterización eléctrica con mecanismos de amarre de obleas "wafers" e integrados, juegos de puntas para contactos eléctricos, controladores X-Y para micro posicionamiento - manipulación, cámaras de temperatura, microscopios ópticos. etc. Determinación de las características eléctricas de obleas recién fabricadas, en procesos de incrustación de circuitos integrados. Pruebas de LCD, LED, LD/PD, Pruebas térmicas para caracterizar el comportamiento - rendimiento térmico, disipación - absorción de energía en circuitos integrados. |
| Medidores caracterizaciones eléctricas I-V | |
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Serie de Fuentes-Medidor para aplicaciones de caracterización eléctrica I-V y nanotecnología. Con ellas sus usuarios serán capaces de acortar drásticamente los tiempos de test, reducir los costes y simplificar el proceso de obtención de medidas de alta precisión. La serie 2600A es la nueva generación de los instrumentos Fuente-Medidor de Keithley. Esta plataforma combina una fuente de precisión, fuente real de corriente, Multímetro Digital, generador de forma de onda arbitraria, generador de pulsos de V ó I, carga electrónica y control de trigger – todo en un solo instrumento. |
| Sistema de caracterización de semiconductores y nanodispositivos | |
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Constituye
la solución mas efectiva en la actualidad para caracterizar
eléctricamente en aplicaciones diversas como: Desarrollo
de tecnologías sobre semiconductores. Integración
de procesado de semiconductores. Inspección
de entrada. Análisis
de fallos. Test
de fiabilidad y vida útil. Investigación
en nanotecnología. Trampas
de carga para dieléctricos de K altos y bajo y test isotérmicos
pulsantes. LEDs
orgánicos. Medidas de efecto Hall y Van der Pauw. Modelado
de dispositivos semiconductores. Caracterización de C.I. de RF y Transistores MOSFET y BJT de potencia. |
| Información relativa | |
caracterización de materiales nanoestructurados
Desafíos emergentes en las pruebas para nanotecnología
Semiconductores/Nano IV Characterization Selector Guide.pdf
Semiconductores/Nano Pulsed IV Characterization Selector Guide.pdf
Semiconductores/Nanowires Resistance Selector Guide.pdf
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