Sistemas de pruebas y caracterización eléctrica con mecanismos de amarre de obleas "wafers" e integrados, juegos de puntas para contactos eléctricos, controladores X-Y para micro posicionamiento - manipulación, cámaras de temperatura, microscopios ópticos. etc.

Determinación de las características eléctricas de obleas recién fabricadas, en procesos de incrustación de circuitos integrados. Pruebas de LCD, LED, LD/PD,

Pruebas térmicas para caracterizar el comportamiento - rendimiento térmico, disipación - absorción de energía en circuitos integrados.

Accesorios, cables, conectores, puntas, adaptadores, apantallamientos, anti-vibración, etc.

ProbeStation

Universidades y Laboratorios:
Microelectrónica, Nanoelectrónica, Microsistemas, Nanotecnología, Micro mecanizado, MEMS,
Ciencia de materiales, Fotónica, Física, Química, Ingeniería mecánica, Biotecnología.

Industrias:
Semiconductor & Electronica. LCD, LED, LD, PD, PCB, FPC,
IC Diseño, IC Test, IC Encapsulado.

Oferta temporal de promoción.

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