Guías de selección para caracterización y/o medida: Nano IV, Nano pulsos IV, Nano hilos. Ver células solares.
Comprobador ParamétricoSolución rápida, compacta y económica para caracterizaciones eléctricas I-V Con esta serie de Fuentes-Medidor, Keithley ofrece una facilidad, potencia de medida y flexibilidad de uso inigualables para aplicaciones de caracterización eléctrica I-V y nanotecnología. Con ellas sus usuarios serán capaces de acortar drásticamente los tiempos de test, reducir los costes y simplificar el proceso de obtención de medidas de alta precisión. La serie 2600A es la nueva generación de los instrumentos Fuente-Medidor de Keithley, ganadores de numerosos reconocimientos en la industria. Esta plataforma combina una fuente de precisión, fuente real de corriente, Multímetro Digital, generador de forma de onda arbitraria, generador de pulsos de V ó I, carga electrónica y control de trigger – todo en un solo instrumento. La serie 2600A incorpora una amplia variedad de mejoras en la medida a nivel tanto de hardware como de software que lo convierte en la solución más potente para constructores de sistemas de test multicanal: -
La máxima velocidad de test del mercado con la frecuencia de muestreo más
alta. -
Escalabilidad de canales ilimitada. -
Posibilidades de varios test en paralelo. -
Tecnología única del convertidor A/D que proporciona alta velocidad y
precisión de medida, a diferencia de los productos competidores que comparten
el convertidor A/D entre varias tareas, ralentizando el test. 2 convertidores
A/D por canal (1 para I y otro para V). -
Gran facilidad de uso gracias a su
software TSP® Express embebido, que permite al usuario llevar a cabo
ensayos I-V rápida y fácilmente sin escribir códigos de programa o instalar
ningún software en el PC. - Conectividad LXI Clase C en interface Ethernet para conexión remota entre web y la instrumentación. Las aplicaciones oscilan entre caracterización I-V de dispositivos de 2 terminales a sistemas de test I-V multicanal en entornos de producción de alta velocidad y sistemas de caracterización de semiconductores multicanal. La serie 2600A incorpora la tecnología Test Script Procesador (TSP®) y TSP-Link®. Con esta tecnología, las rutinas de test, incluyendo algoritmos que toman decisiones avanzadas y hacen cálculos, pueden ejecutarse en el mismo instrumento a diferencia de lo existente hasta ahora que consistía en enviar las lecturas al PC para tomar decisiones y realizar cálculos. Como resultado se eliminan los retrasos y la congestión de datos por el tráfico GPIB, reduciendo enormemente los tiempos de test. TSP-Link® es un bus de expansión propietario de Keithley que permite al usuario añadir canales a su sistema conectando múltiples instrumentos Fuente-Medidor entre si. Como todos los instrumentos conectados a este bus se comportan como un solo sistema multicanal integrado, el usuario puede escalar el sistema de test con el número exacto de canales que necesite a un coste reducido. Velocidad y Flexibilidad inigualablesLa serie 2600A comprende modelos de 1 y 2 canales Fuente-Medidor (SMU), todos en un formato de medio rack y 2U de altura. Para aplicaciones automáticas de múltiples canales ofrece la mayor densidad SMU del mercado. Funciona con una tecnología de medida digital novedosa con mejoras significantes: -
Velocidad de medida hasta 20,000 lecturas/s, lo que posibilita
caracterizar ciertos parámetros de dispositivos inalcanzables con instrumentos
más lentos. -
Familia de productos para un rango dinámico
de 1fA hasta 10A y 1µV hasta 200V. -
Funcionamiento en los 4 cuadrantes. -
Canales aislados eléctricamente, lo que permite combinar canales en serie
o paralelo para expandir los rangos I-V más allá de lo que se consigue con un
solo canal. -
Mejora de 400x en la precisión del
tiempo comparado con la generación anterior de Instrumentos Fuente-Medidor.
Menos de 0.5 ms de sincronización canal-a-canal para controlar muy estrechamente las
condiciones de test. -
Modo de alta Capacidad para
caracterizar dispositivos de hasta 50 mF. -
Capacidad de ensayos en paralelo,
hasta 32 tests corriendo simultáneamente (hasta 64 canales) por dirección GPIB
o TCP/IP. Todos los canales SMU pueden correr de manera síncrona o asíncrona
el mismo test o diferentes tests sobre cualquier número de canales en el
sistema. -
Ruido de salida reducido para proteger
de daños a los dispositivos sensibles. - Función de chequeo de contactos para evitar malos resultados. Los usuarios de la anterior serie 2600 verán mejoras sustanciales en velocidad y prestaciones. Sin cambios en la programación, como un ejemplo se puede decir que un Transistor de Unión Bipolar (BJT) puede ser caracterizado un 24% más rápido con la nueva serie 2600A que con su predecesor. Familia de productos· Modelo 2601A. 1 canal SMU, 6V/3A ó 40V/1A y sensibilidad de 1mV/1pA en modo DC y 10A en pulsante. · Modelo 2602A. 2 canales SMU, mismos rangos
que 2601A.
· Modelo 2611A. 1 canal SMU, 20V/1.5A ó 200V/100mA y sensibilidad de 1mV/1pA
en modo DC y 10A en pulsante. · Modelo 2612A. 2 canales SMU, mismos rangos
que 2611A.
· Modelo 2635A. 1 canal SMU, 20V/1.5A ó 200V/100mA con resolución de 1mV/1fA
en modo DC y 10A en pulsante. · Modelo 2636A. 2 canales SMU, mismos rangos
que 2635A.
Los modelos 2635A/36A son versiones de baja corriente con sensibilidades de 1fA. Gran facilidad de uso en aplicaciones de banco En muchos aspectos, la serie 2600A puede
considerarse como el tester paramétrico personal del ingeniero de pruebas. Además
de las mejoras en el hardware, Keithley ha implementado ventajas similares en
herramientas software. Con esta combinación se convierten en la herramienta
ideal de caracterización a escala de laboratorio para aplicaciones “stand-alone”. Con el software TSP Express de la nueva 2600A, Keithley ha añadido más valor a su potente tecnología TSP. Está embebido en su memoria, por lo que el usuario podrá poner en marcha su aplicación y capturar datos más rápido que nunca. Para rutinas comunes de test I-V, el usuario creará los parámetros del test mediante una serie de menús; TSP Express genera instantáneamente docenas o cientos de líneas de código de programación para ejecutar el test. También posee un puerto para sticks de memoria USB, que puede usarse para almacenar códigos de programa y datos capturados y compartirlos entre diferentes instrumentos y PCs. Aplicaciones relacionadas Test funcional I-V y caracterización de un
amplio rango de dispositivos, incluyendo: · Componentes discretos y pasivos. · Dispositivos de 2 terminales: cabezas de
unidades de disco, Varistores de Metal Óxido (MOVs), diodos, diodos zener,
sensores, condensadores, termistores. · Dispositivos de 3 terminales: Transistores
de Unión Bipolar de pequeña señal (BJTs), Transistores de Efecto-Campo (FETs),
y más... · ICs simples: Optos, drivers, conmutadores,
sensores. · Dispositivos integrados: Integrados de
pequeña escala (SSI) e integrados de gran escala (LSI). · ICs analógicos. · Circuitos Integrados de Radio Frecuencia (RFICs). · Circuitos Integrados de Aplicación Específica
(ASICs). · Dispositivos de Sistema en Chip (SOCs). · Dispositivos Optoelectrónicos tales como
Diodos Emisores de Luz (LEDs), diodos láser, LEDs de alto brillo (HBLEDs), láseres
emisores en superficie de cavidad vertical (VCSELs), displays. · Fiabilidad a nivel de obléa. · NBTI, TDDB, HCI, Electromigración. · Células solares. · Baterías. Información de recursos sobre estos productos el la web de Keithley. Series 2600A Series System SourceMeter®
Multi-Channel
I-V Test Instruments - The scalable solution for high speed R&D and
functional testing: Online
Product presentation with video and voice (5min) Hardware:
Software: (Overview of available packages)
All source - measure product selector guide
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