Ver mesas de puntas para prueba se semiconductores.
Ver células solares.
Guías de selección para caracterización y/o medida: Nano IV, Nano pulsos IV, Nano hilos.
Keithley
4200-SCS
Sistema de
caracterización de semiconductores y nanodispositivos.
Aplicaciones
Constituye la solución mas efectiva en la actualidad para
caracterizar eléctricamente en aplicaciones diversas como:
Desarrollo de tecnologías sobre semiconductores.
Integración de procesado de semiconductores.
Inspección de entrada.
Análisis de fallos.
Test de fiabilidad y vida útil.
Investigación en
nanotecnología.
Trampas de carga para dieléctricos de K altos y bajo y
test isotérmicos pulsantes.
LEDs orgánicos. Medidas de efecto Hall y Van der
Pauw.
Modelado de dispositivos semiconductores.
Caracterización de C.I. de RF y Transistores MOSFET y BJT
de potencia.
Características mas destacadas:
- Interface interactivo gráfico en Windows XP
muy fácil de usar permitiendo cambiar parámetros en línea. Incluso usuarios
ocasionales pueden obtener resultados desde el comienzo.
- Permite visualizar múltiples
gráficas en tiempo real, exportar datos en
formato MS Excel, formular y automatizar tareas.
- Configurable desde 2 a 8 SMUS con convertidores A/D
independientes que trabajan en
paralelo permitiendo mayor rapidez.
- Resolución en
corriente de 0.1fA y 13 rangos hasta
±1 A.
- Resolución en V: 1 μV
y 4 rangos hasta ±200V.
Nuevo módulo de caracterización pulsante integrado:
medidas en continua y pulsantes con un solo equipo.
En la actualidad la disminución de tamaño
de los dispositivos y el aumento de la velocidad de operación
hacen mas crítica su caracterización y es
necesario realizar test con señal continua (IV)y en modo pulsante (PIV).
Ahora el modelo 4200 incorpora generador de pulsos (50 MHz)
y medidor (600 MHz)
integrados. Ambos de 2 canales. Incluye
sistema de acoplamiento cc/ca permitiendo
alternar medidas en continua y pulsantes adaptando impedancias.
Gran Compatibilidad
Permite integrar fácilmente equipos
externos como
caracterizadores CV, medidores de impedancia, matrices de conmutación, probers
manuales y automáticos y micromanupuladores de varios fabricantes.
Las pruebas con pulsos son una técnica nueva de caracterización que se hace cada vez más importante. Los pulsos de alta velocidad eliminan la posibilidad de producir algún daño por efectos de sobrecalentamiento y se utilizan para caracterizar nuevos materiales y dispositivos semiconductores y aplicaciones tales como captura de carga.
Solicite su kit gratuito "Testing/Source-Measure KIT"
Fuentes de alta tensión para semiconductores http://www.hitekpower.com/semiconductor.htm
Estaciones con puntas de pruebas para medidas analíticas en wafers
| Página Principal |